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Text File  |  1992-10-09  |  12KB  |  398 lines
  1. @
  2. SPC Abbreviations
  3.         SPC Abbreviations
  4.  
  5. C - Average count per subgroup
  6.  
  7. CDF - Cumulative Distribution Function
  8.  
  9. Cp - Capability index
  10.  
  11. Cpl - Capability index with respect to
  12.       the LSL
  13.  
  14. Cpk - Capability index (minimum of Cpl
  15.       and Cpu)
  16.  
  17. Cpu - Capability index with respect to
  18.       the USL
  19.  
  20. LCL - Lower Control Limit
  21.  
  22. LSL - Lower Specifications Limit
  23.  
  24. Max - Maximum
  25.  
  26. Min - Minimum
  27.  
  28. MR - Moving Range
  29.  
  30. P - Fraction Defective
  31.  
  32. PN - Percent Defective
  33.  
  34. R - Range
  35.  
  36. Rel Var - Relative Variation 
  37.  
  38. S - Standard Deviation
  39.  
  40. SPC - Statistical Process Control
  41.  
  42. Stats - Statistics
  43.  
  44. T - Time
  45.  
  46. U - Average rate of defects per unit
  47.  
  48. UCL - Upper Control Limit
  49.  
  50. USL - Upper Specification Limit process
  51.       within specs.
  52.  
  53. XBAR - XBAR is the mean (average) of X
  54.  
  55. XMR - Individual Moving Range
  56. @
  57. SPC Definitions
  58.      SPC Definitions
  59.  
  60. #mBeta#m
  61. #mC Chart#m
  62. #mCapability Statistics#m
  63. #mCDF#m
  64. #mCenter/Center Line#m
  65. #mControl Chart#m
  66. #mCorrelation#m
  67. #mCp#m
  68. #mCpk#m
  69. #mCpl#m
  70. #mCpu#m
  71. #mData Bin#m
  72. #mDistribution Graph#m
  73. #mF Value#m
  74. #mFrequency Polygon#m
  75. #mGamma#m
  76. #mGraduated Scale#m
  77. #mIndividual Moving Range (XMR) Chart#m
  78. #mLower Specifications Limit (LSL)#m
  79. #mLower Control Limit (LCL)#m
  80. #mLimits#m
  81. #mMaximum (Max)#m
  82. #mMean#m
  83. #mMedian#m
  84. #mMinimum (Min)#m
  85. #mMoving Range (MR) Chart#m
  86. #mMu#m
  87. #mNominal#m
  88. #mOgive#m
  89. #mOutlier#m
  90. #mPatterns#m
  91. #mP Chart#m
  92. #mPN Chart#m
  93. #mPop sigma(n-1)#m
  94. #mPopulation#m
  95. #mProcess Specifications#m
  96. #mr2#m
  97. #mRange#m
  98. #mR Chart#m
  99. #mRegression Statistics#m
  100. #mRegression Formula#m
  101. #mRelative Variation#m
  102. #mSample#m
  103. #mS Chart#m
  104. #msigma(n)#m
  105. #msigma(n-1)#m
  106. #mSkewness#m
  107. #mStatistical Process Control (SPC)#m
  108. #mStatistics#m
  109. #mSummary Statistics#m
  110. #mt Value#m
  111. #mTable Lookup#m
  112. #mU Chart#m
  113. #mUpper Control Limit (UCL)#m
  114. #mUpper Specifications Limit (USL)#m
  115. #mXBAR Chart#m
  116. #mXBAR-R Chart#m
  117. #mXBAR-S Chart#m
  118. #mZones#m
  119. @
  120. Beta
  121. Beta - The shape parameter in the Weibull distribution.
  122. @
  123. C Chart
  124. C Chart - C is the average count per subgroup.  The C control chart
  125. displays the number of defects which appear in samples of fixed
  126. size.  C charts are based on a Poisson distribution.
  127. @
  128. Capability Statistics             
  129. Capability Statistics - Indices that define the degree to which the
  130. process is or is not meeting the specifications.  These include
  131. Cpl, Cpu, Cpk, and Cp.
  132. @
  133. CDF
  134. CDF - Cumulative Distribution Function.  The cumulative
  135. distribution function for a random variable X defined for any real
  136. x by the probability X<x. An Ogive is the graph of a cumulative
  137. distribution function.
  138. @
  139. Center/Center Line
  140. Center/Center Line - A horizontal graphical line designating the
  141. mean or median of the process measurements.
  142. @
  143. Control Chart
  144. Control Chart - A tool for detecting uncontrolled variation.  There
  145. are based on the laws of probability and statistics and are
  146. effective at detecting the presence of uncontrolled variation in
  147. any process.  The SPC software control charts are:  X (Run),
  148. XBAR-R, X Moving Range, XBAR-S, PN, P, C, U, XBAR, R, S and Moving
  149. Range.
  150. @
  151. Correlation
  152. Correlation - The degree to which one variable is related to
  153. another.  This statistic can either be negative or positive
  154. depending on the slope of the line.
  155. @
  156. Cp
  157. Cp - A process capability index which is a ratio of the
  158. specification range (USL-LSL) to the standard deviation of the
  159. process.
  160. @
  161. Cpk
  162. Cpk - This statistic is the minimum of the Cpl and Cpu statistics. 
  163. It indicates whether to not the process being analyzed is capable
  164. of producing little or no defects.  The higher the number, the less
  165. likely it will be that defectives are produced. 
  166. @
  167. Cpl
  168. Cpl - This statistic relates the difference between the center line
  169. and the LSL to the standard deviation.
  170. @
  171. Cpu
  172. Cpu - This statistic relates the difference between the USL and the
  173. center line to the standard deviation.
  174. @
  175. Data Bin
  176. Data Bin - This is a group or class of data points.  Each bar on a
  177. histogram represents a data bin.
  178. @
  179. Distribution Graph
  180. Distribution Graph - A representation of the data where  points are
  181. plotted according to the value and frequency of occurrence.  In the
  182. SPC software, distribution graphs include histograms, frequency
  183. polygons and CDFs (Ogives).
  184. @
  185. F Value
  186. F Value - A ratio of the regression mean square to the error mean
  187. square.  It is used to make inferences as to whether or not a
  188. relationship exists between x and y based on the analysis of
  189. variance approach.
  190. @
  191. Frequency Polygon
  192. Frequency Polygon - A line graph connecting the midpoints of each
  193. class in a data set plotted at a height corresponding to the
  194. frequency of the curve.
  195. @
  196. Gamma
  197. Gamma - The location parameter in the Weibull distribution.
  198. @
  199. Graduated Scale
  200. Graduated Scale - A y-axis labeling convention where the y-axis is
  201. labelled in incremental units.  The scale of these intervals will
  202. be determined by the computer based on the number of data points.
  203. @
  204. Individual Moving Range (XMR) Chart
  205. Individual Moving Range (XMR) Chart - A chart produced by
  206. continuously plotting the range between current and previous
  207. individual measurements.
  208. @
  209. Lower Specifications Limit (LSL)
  210. Lower Specifications Limit (LSL) - A user-defined quantity which
  211. identifies the lowest acceptable value of a product attribute.
  212. @
  213. Lower Control Limit (LCL)
  214. Lower Control Limit (LCL) - A statistically determined value which
  215. appears as a horizontal dashed line below the process average. 
  216. Generally considered to be three times the standard deviation of
  217. the process measurements.
  218. @
  219. Limits
  220. Limits - Boundaries which indicate the acceptable ranges for a
  221. product attribute.  These limits are either provided by the user or
  222. calculated based on the process measurements in the raw data file.
  223. @
  224. Maximum (Max)
  225. Maximum (Max) - The greatest quantity or value measured.
  226. @
  227. Mean
  228. Mean - The arithmetic average of a set of numbers.
  229. @
  230. Median
  231. Median - The dividing point where exactly half of the data values
  232. are above and half are below.
  233. @
  234. Minimum (Min)
  235. Minimum (Min) - The least quantity or value measured.
  236. @
  237. Moving Range (MR) Chart
  238. Moving Range (MR) Chart - A chart produced by continuously plotting
  239. the range between the current and previous sample means.
  240. @
  241. Mu
  242. Mu - A parameter which refers to the mean of a distribution. 
  243. @
  244. Nominal
  245. Nominal - The user-defined target value of a process.
  246. @
  247. Ogive 
  248. Ogive - An Ogive is the graph of a cumulative  distribution
  249. function (CDF).
  250. @
  251. Outlier
  252. Outlier - A data point which lies outside the relevant range.  This
  253. can be an indication of a severe disturbance in the process or a
  254. data entry problem.  Marking an item as an outlier can serves as a
  255. flag to the user that something is potentially wrong.
  256. @
  257. Patterns
  258. Patterns - Traits or other observable features characterizing a
  259. data set. These include runs, freak points, freak patterns,
  260. stratification, trends, shifts, and cycles.
  261. @
  262. P Chart
  263. P Chart - P is the fraction of defectives in each group.  The P
  264. Chart is based on a running record of the proportion of defective
  265. product in a subgroup.  It shows the characteristics of both the
  266. mean (average) and dispersion (spread) of the process.
  267. @
  268. PN Chart
  269. PN Chart - PN Charts show the number of defectives in identical
  270. groups.  They are used whenever the data is binomially distributed
  271. and the sample size is constant.  PN Charts show the
  272. characteristics of both the mean (average) and dispersion (spread)
  273. of the process.
  274. @
  275. Pop sigma(n-1)
  276. Pop sigma(n-1) - The standard deviation of all the individual
  277. measurements.
  278. @
  279. Population
  280. Population - A collection of all the items under study.
  281. @
  282. Process Specifications
  283. Process Specifications - Values used to identify the acceptable
  284. ranges for product attributes.  These include LSL, USL, and
  285. nominal.
  286. @
  287. r2
  288. r2 - Sample coefficient of determination.  It can be interpreted as
  289. the proportionate reduction of the total variation associated with
  290. the independent variable.
  291. @
  292. Range
  293. Range - The difference between the largest and smallest of a data
  294. set.
  295. @
  296. R Chart
  297. R Chart - R is the range of the data in each sample.  The R Chart
  298. shows changes in the dispersion (spread) of the process.
  299. @
  300. Regression Statistics
  301. Regression Statistics - The statistics which are associated with
  302. regression analysis.  Regression analysis is the general process of
  303. predicting one variable from another.  The regression statistics
  304. include the regression line, the coefficient of determination (r2),
  305. F-value and t-value.
  306. @
  307. Regression Formula
  308. Regression Formula - Often referred to as the regression line or
  309. fitted line.  The formula describing the "best" line that minimizes
  310. the distance between that line and the  process data points.
  311. @
  312. Relative Variation
  313. Relative Variation - A ratio of the sample's unbiased standard
  314. deviation to its mean.  Often used as a comparison between
  315. processes which have the same mean.
  316. @
  317. Sample
  318. Sample - A representative collection of some, but not all, of the
  319. items of the population.  Samples are used in describing the
  320. population.
  321. @
  322. S Chart
  323. S Chart - S is the sample standard deviation.  The S Chart shows
  324. changes in the dispersion (spread) of the measurements.
  325. @
  326. sigma(n)
  327. sigma(n) - The biased standard deviation estimator.  Bias implies
  328. n degrees of freedom.  Generally, sigma(n) is used unless the
  329. sample size is small in relation to the population as a whole.
  330. @
  331. sigma(n-1)
  332. sigma(n-1) - The unbiased standard deviation estimator.  The
  333. estimator has n-1 degrees of freedom.  Sigma(n-1) is used when the
  334. sample size is small in relation to the population as a whole.
  335. @
  336. Skewness
  337. Skewness - This statistic measures the asymmetry of a process. 
  338. This occurs when values in the frequency distribution are
  339. concentrated at either the low end or high end of the measurement
  340. scale on the horizontal axis.
  341. @
  342. Statistical Process Control (SPC)
  343. Statistical Process Control (SPC) - The use of statistical
  344. techniques to analyze a process or its output so as to take
  345. appropriate actions to achieve and maintain a state of statistical
  346. control and to improve the capability of the process.
  347. @
  348. Statistics
  349. Statistics - A branch of mathematics dealing with the collection,
  350. analysis, interpretation, and presentation of masses of numerical
  351. data.
  352. @
  353. Summary Statistics
  354. Summary Statistics - The basic statistics associated with the
  355. process.  These include the mean, median, max, min, sigma, etc.
  356. @
  357. t Value
  358. t Value - A ratio of the slope of the fitted regression line to its
  359. standard deviation.  Generally used as a test statistic to
  360. determine whether or not the true slope of the process equals some
  361. specified non zero value.
  362. @
  363. Table Lookup
  364. Table Lookup - In SPC this term refers to the standard textbook
  365. generated table constants reference.
  366. @
  367. U Chart
  368. U Chart - U is the average rate of defects per unit.  The U Chart
  369. displays a rate of defects when sample size is not constant.  The
  370. chart may or may not be based on a Poisson distribution.
  371. @
  372. Upper Control Limit (UCL)
  373. Upper Control Limit (UCL) - A statistically determined measurement
  374. which appears as a horizontal dashed line above the process
  375. average.  Generally considered to be three times the standard
  376. deviation of the process measurements.
  377. @
  378. Upper Specifications Limit (USL)
  379. Upper Specifications Limit (USL) -  A user-defined quantity which
  380. identifies the highest acceptable value of a product attribute.
  381. @
  382. XBAR Chart
  383. XBAR Chart - XBAR is the sample mean.  The XBAR Chart shows changes
  384. in the mean value of the process. 
  385. @
  386. XBAR-R Chart
  387. XBAR-R Chart - The XBAR-R control chart shows both the mean value
  388. (XBAR) Chart and the range (R) Chart.
  389. @
  390. XBAR-S Chart
  391. XBAR-S Chart - The XBAR-S control chart shows both the mean value
  392. (XBAR) Chart and the standard deviation (S) Chart.  They should be
  393. used when the logical group size is larger than ten.
  394. @
  395. Zones
  396. Zones - Areas between the 1-, 2- and 3-sigma lines above and below
  397. the center line.
  398. @